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가격협의

핸드폰 부품, 반도체 부품, 미세홀 사이즈 측정 / Prober Card 검사

  • 제품번호 :
    312276
  • 제조사 :
    (주)빔텍
  • 제조 년월 :
    -
  • 모델명 :
    EG 400S

제품 상세정보

적용분야

  • 핸드폰 부품, 반도체 부품, 미세홀 사이즈
  • Prober Card


특징

  • 육안으로 확대 검사가 필요한 경우 필요한 배율의 렌즈를 선택하여 확대 확인은 물론 크기의 측정도 가능한 현미경
  • 컴퓨터를 연결하면 측정 프로그램인 Neoview를 사용가능
  • 불량부분의 확대 검사 및 이미지 저장 가능
  • 360° 회전 스테이지 채용(옵션)
  • DRO 창을 이용한 간편측정, Z축 Motor채용으로 정밀/ 미세조정 지원

소프트웨어

  • 빔텍 순수 기술로 개발된 전용 3차원 측정 소프트웨어 Neoview 기본채용

판매기업

대표자명 최승호
문의전화 0504-3105-6237
홈페이지 www.vimtec.com
이메일 vimtec@vimtec.com
주소 경기 시흥시 군자천로 127 (정왕동) 정왕동 시화공단 2라 407호
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